燈具分布光度計(jì)是一種大型的精密光學(xué)測試設(shè)備，目前有幾種結(jié)構(gòu)形式。本文從分布光度測量要求出發(fā)，分析了現(xiàn)有幾種分布光度計(jì)在結(jié)構(gòu)上的差異及應(yīng)用中存在的問題。合理、舒適的照明，不僅可以滿足人們?nèi)粘Ｉ畹男枰芴峁┮粋€安全、節(jié)能、高效工作的視覺環(huán)境。燈具的分布光度性能是影響照明質(zhì)量的最關(guān)鍵因素。采用科學(xué)的測試方法、選擇合適的儀器是獲得準(zhǔn)確的燈具分布光度特性的基礎(chǔ)。燈具的分布光度測量是燈具設(shè)計(jì)和照明設(shè)計(jì)中質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)，尤其是隨著新光源和新興照明技術(shù)的發(fā)展，對燈具分布光度測量提出了新的挑戰(zhàn)。
國際上目前有多種結(jié)構(gòu)的燈具分布光度計(jì)，采用不同的原理方案實(shí)現(xiàn)燈具空間光分布的測量。由于設(shè)備制造商的技術(shù)水平差異，使得測試設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中存在各種各樣的問題。某些商業(yè)的宣傳也誤導(dǎo)了用戶的認(rèn)識，使測試數(shù)據(jù)不能應(yīng)用于實(shí)際的照明工程，無法在國際上進(jìn)行對比交流。
燈具一、 分布光度測量的基本要求對于分布光度計(jì)，根據(jù)測試的需要，有如下要求：
1、光度測量距離發(fā)光強(qiáng)度的測量是通過測量某一定距離上的照度，根據(jù)光度學(xué)的距離平方反比定律，計(jì)算得到光強(qiáng)值。即：I(C，r) = E(C，r) * R2(C，r)其中：I 為測試方向上的光強(qiáng)，E 為探測器光電接收面的照度， R 為測試距離．但是對于許多燈具，尤其是LED 燈具，近場的光度定律不適用，CIE文件對此作了明確的規(guī)定，燈具的光度測試距離應(yīng)足夠大，滿足如下條件對于熒光燈類燈具 R>D × 10對于投光燈類燈具 R>D × 200/θD: 發(fā)光面積最大尺寸 θ: 光束的半峰邊角通常，采用兩種測量距離：寬光束燈具為：12m~15m，窄光束高強(qiáng)度燈為30m~35m，保證遠(yuǎn)場測量精度。
2、 光度測量精度光度探測器是分布光度計(jì)的重要組成部分之一，探測器的光譜響應(yīng)S (λ)精度應(yīng)與人眼的明視覺光譜光視效率函數(shù)V(λ)一致，即S(λ)=V(λ)。根據(jù)國際照明委員會CIE規(guī)定，對于氣體放電燈的光強(qiáng)分布測量，探測器的V(λ)匹配誤差f1’應(yīng)不超過2%。要使探測器的光譜響應(yīng)匹配到與V(λ)曲線一致，通常采用一組不同材料的濾光片，加在硅光池前面。
由于受玻璃材料的光譜透射比曲線的限制，要達(dá)到f1’小于2%的精度并非易事。因此高精度的分布光度計(jì)的探頭還需從德國進(jìn)口。也有一些探頭采用部分濾光片法實(shí)現(xiàn)精確V(λ)的匹配。這種光度探測器只適合于均勻光束的測量。在分布光度測量中，空間光束分布極不均勻，部分濾光片法匹配的探測器，實(shí)際應(yīng)用的誤差會非常大。目前在分布光度計(jì)中應(yīng)用的硅光電探測器，靈敏度會隨溫度升高而降低，溫度變化1℃，大約會引起0.1%的靈敏度變化。此外光電流放大電路的.倍率也會受溫度的影響。因此必須對光度探頭和電路恒溫，溫度應(yīng)控制在1℃以內(nèi)。
3、 角度精度分布光度計(jì)測試的是燈具在各個方向上的光度數(shù)據(jù)，對其旋轉(zhuǎn)和定位系統(tǒng)的角度精度有較高的要求，包含角度精度、軸線精度、反光鏡面形精度等。對于帶反光鏡的分布光度計(jì)，反光鏡的平面度非常重要，面形誤差和角度安裝誤差都會以兩倍影響角度精度；面形誤差還會影響測量光束的空間特性，引起更大的測量誤差。如果在測量過程中探測器的測量光束軸相對于反光鏡需作空間旋轉(zhuǎn)（錐面）運(yùn)動，那么反光鏡的面形誤差將以四倍影響角度精度。
目前國際上高檔的分布光度計(jì)，反光鏡與鏡架均采用特殊的結(jié)構(gòu)連接，浙大三色公司和德國LMT公司制造的分布光度計(jì)，反光鏡采用局部連接的方法，鏡面的平行度通過激光精確校準(zhǔn)。
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